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PlantScreen高通量表型组学平台研究叶片衰老

浏览次数:1518 发布日期:2020-6-28  来源:北京易科泰生态技术有限公司

韩国大邱基础科学研究所Jeongsik Kim、Pyung Ok Lim等,利用PlantScreen大型高通量表型组学研究平台,对植物叶片衰老进行了系列研究(参见论文:Jae IL Lyu etc. 2017. High-throughput and computational study of leaf senescence through a phenomic approach. Frontiers in Plant Science):

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研究综合利用了平台的叶绿素荧光成像、VNIR高光谱成像、SWIR高光谱成像、RGB成像、红外热成像等高通量表型分析技术及系统提供的叶片跟踪分析功能(leaf tracking analysis),在线采集分析了150个表型性状参数,包括四十多个叶绿素荧光参数、近百个高光谱植物光谱反射指数参数,全面研究分析了拟南芥叶片生活周期及衰老表型组学。


易科泰生态技术公司提供植物表型组学全面技术方案:

1)FluorPen手持式叶绿素荧光仪、PlantPen/PolyPen手持叶夹式高光谱仪,提供方便实用、功能全面的手持式叶片水平(leaf-level)表型测量技术和监测技术

2)便携式叶绿素荧光成像、高光谱成像、红外热成像、光合作用与叶绿素荧光成像复合系统,为大田作物表型组学研究提供方便实用、功能全面的便携式叶片水平和冠层水平表型测量技术

3)实验室台式表型成像分析系统、作物种质资源检测系统,FluorCam叶绿素荧光成像、高光谱成像、红外热成像、RGB成像等表型分析全面技术方案

4)大型高通量植物表型系统集成方案/PlantScreen表型分析平台

a)FluorCam叶绿素荧光成像技术,国际植物生理功能表型分析主流技术

b)多光谱荧光成像分析技术,多激发光、多光谱荧光,初级代谢、次级代谢表型组学研究

c)VNIR高光谱、SWIR高光谱成像分析技术

d)RGB 3D形态结构与颜色成像分析

e)高分辨率红外热成像分析

f)3D激光扫描分析

g)高通量根系分析

h)自动浇灌与称重

5)野外大田表型分析技术

a)Thermo-RGB红外热成像与RGB成像融合技术

b)Specim高光谱成像技术

c)Ecodrone®无人机遥感与近地遥感技术

d)PhenoPlot轻便型表型分析系统

e)SpectraScan大型高通量表型分析平台

发布者:北京易科泰生态技术有限公司
联系电话:13718717100
E-mail:sales@eco-tech.com.cn

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