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计算机断层扫描(CT)是对样品进行无损检测(NDT)的关键手段,可部分取代传统破坏性剖切的检测方法,实现在任意方向上无损获得剖切成像,更可以从三维立体结构上进行观察和分析。
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我们拥有X射线三维CT的设备演示和测试服务实验室,持续为客户提供检测服务,帮助客户解决各种应用需求。目前已积累了15000余件样品的分析经验,为客户提供了超过4000份测试报告。
CT检测已经超出了传统意义上的无损探伤的范畴,除了能检测内部的缺陷之外,还在尺寸测量、统计分析和模拟计算等方面体现出独特的优势。
样品材质:碳材料、高分子、陶瓷、铝镁轻金属、铁镍重金属等各种密度等级
样品尺寸:可实现跨尺度的样品扫描,0.1mm~1000mm
样品准备:一般无需特殊制备要求,可直接测试(无需抛光、染色等前处理)