新一代LVEM 25E低电压电子显微镜，换样仅需2分钟

新一代LVEM 25E低电压电子显微镜

具有能量色散光谱（EDS）功能

All In One:

具有TEM, STEM, SEM, EDS和ED 模式

操作简单

换样快捷，换样仅需2 min

无需冷却水

无需专业实验室

维护成本超低

新一代低电压电子显微镜LVEM 25E

LVEM 25E

近期，Delong公司研发推出了新一代LVEM 25E低电压电子显微镜，该设备配备了TEM、STEM、SEM、EDS和ED五种成像和分析模式，将材料表征研究推向新的高度。超快的样品切换和增强的自动化功能使LVEM 25E成为常规成像应用中实用且易用的工具。LVEM 25E能从标准制备的样品中获得对比度好、细节丰富的图像，并能在减少染色的情况下获得同等细节水平的图像。

LVEM 25E不仅可以测量内部和外部结构，还可以分析样品的化学成分，所有这些功能均在一台设备上完成。先进的软件设计，可自动设置镜筒对中光阑位置来协助用户分析样品。

一台仪器有五种成像模式

☛ 配备TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式

☛ 通过直观的软件轻松切换成像模式

☛ TEM和STEM模式下的明场和暗场测量

☛ SEM模式（BSE）用于表面测量

☛ 能量色散光谱（EDS）用于元素分析

☛ 电子衍射（ED）用于了解晶体结构

完全集成和紧凑的设计

☛ 设计紧凑、节省空间

☛ 几乎可以在任何实验室环境中进行单插头安装

☛ 没有特殊的设施要求（不需要冷却、电源或防震隔离）。

对标准样品的高对比度和分辨率

☛ 对生物和轻型材料样品具有超好的对比度

☛ 无需染色

☛ 图像分辨率高达 1.0 nm

☛ 专为传统制备的样品设计

☛ 超快的样品切换

	一体化设计--紧凑、轻便 完全独立的设计使安装地点的选择没有限制，真正实现了电子显微镜的轻松搬迁。
	无特殊设施--安装无忧 LVEM 25E可以轻松地安装在大多数实验室，而不需要对电气或管道进行特殊考虑。只需将其插入一个标准的电源插座即能投入使用。
	永磁透镜 - 无需冷却 独特的LVEM平台采用了永磁透镜，使设备紧凑、坚固、易于使用，同时不需要任何冷却。
	快速且容易的真空恢复 - 自动软烘烤和喷枪调节 如果出现真空损失，LVEM 25E可减少停机时间。具有自动软烘烤和喷枪调节功能，恢复真空的速度很快，而且不需要去维修。
	直接光束测量--低剂量定量 该功能可使用户测量样品的辐照度。
	自动对准，两级放大 -优异的成像条件 通过软件自动调整和控制LVEM 25E的镜筒对中光阑位置，操作者不需要手动校正。这意味着LVEM 25E总是准备好以优异的性能进行成像，并允许在不同的模式之间快速、轻松地切换。
	快速的样品切换 - 高通量成像 真空系统采用一个集成的、免维护的涡轮分子泵，结合无振动的离子泵设计而成，可以实现超快的样品切换，产生一个超高真空的成像环境，免受污染。
	场发射电子枪 – 超高的对比度 25kV的肖特基型场发射电子枪具有非常高的亮度和空间一致性，允许发射的电子和样品之间有很强的相互作用。这也是LVEM 25E具有独特的高对比度的原因。

测试数据展示：

    LVEM 25E配备了TEM、STEM、SEM、ED和ED模式，为用户提供了独特的选择。用户可通过LVEM软件在各种成像模式之间轻松切换，从一个样品中获得多种数据结果。

TEM	STEM	Dark Feild
25 kV TEM模式下提供了高帧率成像，以实现良好对比的尺寸、形状和结构测量。	在较低的加速电压下，10 kV和15 kV STEM模式的成像提供了更高的对比度，并允许分析更厚的样品。	TEM和STEM暗场模式（HAADF）都能使样品在具有挑战性的背景、晶面、位错、DNA等方面更容易成像。
SEM	ED	EDS
SEM模式（BSE）提供对样品表面的分析，以了解表面形状和纹理。	电子衍射可以对晶体材料进行结构表征。	EDS模式允许分析样品的化学成分，并创建元素成分图，可与STEM和SEM数据叠加。