金属间腐蚀(IMC)分析系统

Media Cybernetics与全球领先的半导体制造组织合作，实现了金属间腐蚀(IMC)分析的现代化。作为Image-Pro平台的应用程序，IMC应用程序允许用户通过基于向导的工作流程轻松测量IMC区域。该应用程序将引导用户逐步完成分析过程，通过主动提示从原始图像开始选择感兴趣区域(ROI)，然后交付最终的IMC结果。

通过检查IC触点上的电子接触区域来分析金属间腐蚀。在接触点上方绘制的感兴趣区域(ROI)内寻找铜球端和铝接触点之间的腐蚀。通过自定义分割阈值，您可以识别未腐蚀的铝。根据这些信息，报告ROI中不含未腐蚀铝的面积百分比-即腐蚀产品覆盖的面积百分比。

在工作流程结束时，IMC APP将自动报告感兴趣区域内IMC区域的百分比 ，通过实施IMC应用程序简化您的IMC分析。

由广泛的用户反馈驱动的定制解决方案，并由复杂的工具提供支持

•用户友好的界面

•在IMC区域应用程序一步一步的工作流程

•批处理分析大量图像

•数据采集器，自动保存结果

•一键数据导出到Excel, PDF, PowerPoint等。

•业界最大的用户社区

IMC面积测量

在IMC区域应用程序中，可以使用“单次测量”或“批量处理”功能对单个图像或批量图像进行测量。

分析过程

“校准”是硬编码在应用程序的分析。如果需要，可以在应用程序代码下更改校准。由于半导体行业的安全程序，该应用程序的设计方式必须输入“操作员ID”才能激活分析工具。可以根据样本图像中要测量的感兴趣的区域/区域输入“ROI直径”。

对于“单一测量”，用户将被提示使用颜色拾取工具选择分割阈值。ROI调整可以在阈值选择之后进行。在选择ROI后，将计算IMC区域的面积百分比，并与运营商ID一起在图像中作为叠加显示。更详细的数据/信息可在“数据表”中查看。通过点击“快照”按钮，可以捕获带有叠加的分析图像的快照以进行数据收集。

对于“批量测量”，用户可以指定一个图像文件夹进行批量处理。其中，它将执行与single Measure类似的分割阈值和ROI选择步骤，并自动保存带有叠加的快照图像的副本。之后，打开下一张图像进行分析，并对分配的所有图像重复分析/步骤

文件夹中。所有图像的测量数据将在“数据采集表”中采集。

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