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法国Phasics红外/近红外波前传感器取得出口豁免

浏览次数:1214 发布日期:2023-5-25  来源:本站 本站原创,转载请注明出处
好消息!法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免,无需出口许可!

法国Phasics成立于2003年,提供最 先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性,从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。

近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉,公司提交申请的高精度红外(3-5um &8-14um)/近红外(900-1700nm)波前传感器出口豁免申请已获得通过这就意味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案。

下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪

1. SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器

图1 SID4-SWIR波前分析仪

SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器产品特点:

  •  高相位分辨率:160x128 or 80x64

  •  高重复度:<2nm RMS

  •  高测量精度:15nm RMS

  •  工作波段:900-1700nm

  •  高灵敏度:可适用于低功率红外光源测试

  •  瞬时相位测量,对振动不敏感

  •  可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

 2. SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪


图2 SID4-DWIR波前分析仪


SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪产品特点:

  • 宽工作波段:3-5um & 8-14um

  • 高相位分辨率:160x120

  • 高重复度:25nm RMS

  • 高测量精度:75nm RMS

  • 对振动不敏感

  • 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统

图3 Kaleo Kit红外测试模组

近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点:

  • 多波长:266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

  • 大口径:Up to 5.1”(130mm)

  • 高重复度精度:<0.7nm RMS

  • 高测量精度:80nm PV

  • 对震动不敏感

测试案例:


图4 非球面测试结果


图5 平面测试结果

图6 镜头透射波前测试结果


图7 镜头MTF测试结果

上海昊量光电作为Phasics公司在中国大陆地区最 大的代理商,为您提供专业的选型以及技术服务。如您对Phasics公司的波前传感器产品或者测试系统感兴趣或者任何问题,都欢迎通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。
请访问上海昊量光电的官方网页:
https://www.auniontech.com/three-level-46.html

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