植物根系X-光扫描分析系统荣获美国R&D发明大奖

据美国R&D Magazine最新消息，由上海泽泉科技有限公司代理的美国Phenotype Screening公司植物根系X-光扫描分析系统ROOTVIS FS荣获美国R&D100大奖殊荣.

美国Phenotype Screening公司的植物根系X-光扫描分析系统是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。

详见： http://www.rdmag.com/awards.aspx?CommonCount=0

这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。



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