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820 次 MiniSIMS在表面污染分析中的应用 2026-4-7
在涂装、粘接、电子封装等制造工艺中，表面清洁度是决定产品质量的关键因素之一。微量污染物，尤其是以薄膜形态存在的有机残留，可能仅为一个分子层厚度，肉眼完-全不可见，却足以导致涂层附着力
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882 次 亚毫米缺陷无所遁形：MiniSIMS为金属涂层做“CT” 2026-3-23
在航空航天、汽车制造、精密工具等高-端制造领域，金属涂层是赋予部件耐磨性、耐腐蚀性和美观外观的关键技术。从几微米的硬质涂层到几十纳米的功能薄层，涂层的质量直接决定产品的使用寿命和性能
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843 次 MiniSIMS在玻璃涂层快速深度剖析中的应用 2026-3-16
随着建筑节能与汽车轻量化需求的不断提升，功能化镀膜玻璃的应用日益广泛。低辐射（Low-E）玻璃、太阳能控制玻璃、自清洁玻璃等产品，均依赖于表面多层涂层的精确设计。这些涂层通常由金属、金属
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731 次 MiniSIMS在电子元件表面污染分析中的应用 2026-3-11
在电子制造过程中，元器件表面的清洁度直接关系到后续涂覆、粘接、封装等工序的质量。有机残留、无机盐类等表面污染物可能导致涂层附着力下降、接触电阻增大甚至器件失效。因此，快速、准确地识
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2226 次 TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂层的光谱分析 2024-10-10
飞行时间二次离子质谱（ Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ，TOF-SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,
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1610 次 二次离子质谱仪不同质量分析器的区别 2024-9-13
二次离子质谱法是一种高效的分析技术，利用化合物的离子化过程及其质量分析，以确定待测化合物的分子量、分子式和结构特征。质谱仪作为该方法的重要组成部分，通过将离子的质量进行有效分离，并
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2103 次 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪离子源的选择 2024-8-29
TOF-SIMS（TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry）飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束，和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。
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2195 次 使用TOF-SIMS进行材料研究 2024-8-13
静态SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，能在只消耗样品单层一小部分的情况下，获得详细的质谱图。被分析的分子来自固体表面前几层，这对于探讨材料关键区域例如附着力或催化等性质至关重要。Ko
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2220 次 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱的技术能力 2024-8-6
飞行时间二次离子质谱 （TOF-SIMS） 是一种表面分析技术，它将脉冲一次离子束聚焦到样品表面，在溅射过程中产生二次离子。分析这些二次离子可提供有关样品表面的分子、无机和元素种类的信息。例
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5841 次 一文读懂飞行时间二次离子质谱技术（TOF-SIMS） 2024-8-1
什么是TOF SIMS? 它可以应用于哪些领域？能提供哪些信息？哪些样品适用（哪些不适用）？在这一系列文章中，我们将解答所有这些问题，以及更多探讨。飞行时间二次离子质谱法（ToF SIMS）是一种用