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3876 次斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究 2013-8-8
斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究窦彦玲，任中京，江海鹰(济南大学颗粒测试研究所，山东济南 250022)摘要：与传统正投影显微图像分析方法不同，本文应用斜投影法，通过变换观测颗粒

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