2260 次TMS-EEG识别重度抑郁症疾病严重程度和认知功能障碍 2025-3-11
作者信息中国科学院心理研究所张向阳研究组开展了一项合作研究,旨在探索抑郁症患者症状及认知功能损伤的神经标志物。文章已在线发表于International Journal of Clinical and Health Psycholog
2228 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂层的光谱分析 2024-10-10
飞行时间二次离子质谱( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,
2105 次TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪离子源的选择 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束,和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。