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东南大学机械工程学院的薛澄岐教授团队于2024年4月在INTERNATIONAL JOURNAL OF HUMAN COMPUTER INTERACTION(5-Years IF =4.5)发表名为Understanding Relations Between Product Icon Type, Fe
2301 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂层的光谱分析 2024-10-10
飞行时间二次离子质谱( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,
2180 次TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪离子源的选择 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束,和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。
2098 次Specim IQ 高光谱成像技术揭示高原蜥蜴色彩适应性奥秘 2024-6-24
在生命科学的探索旅程中,我们时常被自然界中生物的精细适应性所折服。中国科学院动物研究所研究人员在Molecular Biology and Evolution上发表了题为《Genetically encoded lizard color div