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802 次 精准可靠的半导体失效分析制样解决方案 2026-1-9
精准定位，真实暴露徕卡电镜制样为半导体失效分析提供决定性起点当你的FIB还在为寻找那个确切的失效点而耗时数小时，徕卡显微系统的制样方案已让目标界面在电镜下清晰呈现。半导体失效分析工程师
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2146 次 案例分享：液晶屏玻璃基板上线路结构的观察 2024-9-24
随着电子产品的更新换代，显示屏的清晰度和色彩等要求越来越高。尤其手机更是如此，每出一款新的手机，显示屏的对比度和光亮度、高速度等性能就会有一个质的飞跃。我们今天来看看TFT-LCD内部基板
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1693 次 利用EM TIC 3X进行离子束刻蚀 2024-9-6
在这篇文章中，您可以了解到如何通过使用EM TIC 3X离子束研磨抛光仪的离子束蚀刻工艺来优化样品的制备质量。EM TIC 3X离子束研磨抛光仪EM TIC 3X是一种非聚焦离子束研磨设备，可用于制备截面和平
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1580 次 徕卡EM TIC3X三离子束切割抛光仪在地质样品中的应用 2020-9-14
用于扫描电镜分析的地质样品有油页岩、煤层、矿石、土壤和沉积物等多种类型，而对这些样品进行制样处理的主要操作就是获得一个无损伤的平整面。机械切割和机械磨抛很难避免处理过程中造成样品的